Название кафедры: Общая физика
Дата открытия: 2001
Руководитель: Торшхоева Зинаида Султановна
Состав:

Направление кафедры «Физика полупроводников и диэлектриков».
Кафедра осуществляет свою научную деятельность по госбюджетной теме кафедры «Получение и комплексное исследование полупроводниковых материалов классов Tl B3 C26, A1B3C26, A2B6 и твердых растворов на их основе» совместно с отделением оптики ФИ им. П.И.Лебедева РАН в рамках Договора о научном сотрудничестве.
По результатам проведенных работ сотрудники кафедры приняли участие в работе Международного симпозиума в г. Ростов-на-Дону ОМА-16, где доценты кафедры Магомадов Р.М., Нальгиев А.Г-М. и Нальгиева М.А. представили три доклада: «Рассеяние неравновесных недерминализованных дырок на оптических колебаниях в кристаллах ZnS», «Рассеяние неравновесных недерминализованных дырок на акустических колебаниях в кристаллах ZnS» и «К вопросу о носителях заряда ответственных за фотоэффект и фотогальванический эффект в кристаллах ZnS»;
Международного симпозиума «Порядок, беспорядок и свойства оксидов» в г. Ростов-на-Дону OPDA-14, на котором профессор кафедры Матиев А.Х. представил три доклада:
«Температурная зависимость фототока в AgInSe2»,
« Модель эстафетного механизма переноса инжектированног в кристалл заряда в системе металл-полупроводник-металл на примере TIGa0,99Fe0,01Se2»
« Фотопроводимость монокристаллов TI1-x Cux GaSe2».
Материально-техническая база кафедры.
Кафедра общей физики проводит большую работу по материально-техническому обеспечению учебных лабораторий современным учебным оборудованием: имеются лабораторные комплексы по разделам Электричество и магнетизм, оптике и атомной физике, а также по физике полупроводников и полупроводниковых приборов. Ниже приводится перечень приборов и установок, используемых при выполнении лабораторных работ, курсовых и дипломных проектов:
1. Маятник Обербека;
2. Трифилярный подвес;
3. Универсальный маятник;
4. Установка для изучения деформаций растяжения и изгиба;
5. Прибор для определения скорости звука в воздухе;
6. Установка для измерения постоянной Больцмана;
7. Установка для определения молярной газовой постоянной методом изохорического нагревания;
8. Установка для определения вязкости и основных характеристик молекулярного движения газов;
9. Установка для определения отношения теплоемкостей газов;
10. Установка для определения вязкости жидкости методом Стокса;
11. Установка для исследования зависимости поверхностного натяжения жидкости от температуры методом Ребиндера;
12. Установка определение поверхностного натяжения жидкости методом отрыва кольца;
13. Установка для определения поверхностного натяжения методом отрыва капель;
14. Установка для изучения изменения энтропии в неизолированной системе;
15. Установка для изучения теплового расширения твердых тел (прибор Менделеева);
16. ФПЭ – 02 – модуль;
17. МТ - мультиметр;
18. PO – осциллограф;
19. ФПЭ-04 – модуль;
20. ФПЭ-ИП – источник питания;
21. ФПЭ-05 – модуль;
22. PQ - генератор звуковой частоты;
23. ФПЭ-06 – модуль;
24. ФПЭ – 07 – модуль;
25. ФПЭ-08– модуль;
26. ФПЭ - МЕ – магазин емкостей;
27. ФПЭ - МС – магазин сопротивлений;
28. ФПЭ – 09 – модуль;
29. ФПЭ-10 – модуль;
30. ФПЭ – 11 – модуль;
31. ФПЭ-12 – модуль;
32. ФПЭ – 13 – модуль;
33. ФПЭ-20;
34. Микроскоп;
35. Лабораторная установка по определению фокусных расстояний и положения главной плоскости двухлинзовой оптической системы;
36. Лабораторная установка по исследованию явления дифракции света на круглом отверстии и щели;
37. Лабораторные установки по изучению интерференции, дисперсии оптического стекла;
38. Лабораторная установка по исследованию закона Малюса и прохождения поляризованного света через фазовую пластинку;
39. Лабораторная установка по исследованию спектров поглощения и пропускания;
40. Автоматизированные лабораторный стенд для исследования свойств сегнетоэлектрических материалов
41. Автоматизированные лабораторный стенд для исследования свойств полупроводниковых структур методом вольт- фарадных характеристик
42. Автоматизированные лабораторный стенд для исследования свойств полупроводниковых материалов электронной техники методом эффект Холла
43. Автоматизированные лабораторный стенд для исследования магнитных свойств материалов электронной техники
44. Автоматизированные лабораторный стенд для исследования свойств однокомпонентных и многокомпонентных проводниковых материалов электронной техники